集团公司一项X-射线荧光光谱测定方法获国家发明专利授权

2023-04-23

近日，由集团公司自主开发的一种X-射线荧光光谱法测定硫酸镁及其水合物中镁、硫元素含量的方法获得国家发明专利授权。

X-射线荧光光谱法是目前元素分析领域中重要的分析方法，但此法在检测含结晶水类产品时由于挥发出的水蒸气会造成样片开裂，影响数据稳定性和准确性，使其应用受限。

本发明通过优化测定方法流程，采用先灼烧后校正的方法，解决了X-射线荧光光谱测定方法在测定含结晶水类样品时的技术难题，提升了检测效率，标志着企业在技术创新发展的道路上又迈出了坚实的一步。

编制：沈洁审校：李长龙主审：杨云洪